こんにちは、先日エアバリアブルブログなどで取り上げられていたLCRテスターを試しに買ってみました。
ドイツのオープンプロジェクト産物
www.mikrocontroller.net
のようです。
一週間ぐらいで中国から航空小包でやってきました。
中国の杭州からやってきたようです。
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- その後十数回使ったら液晶がドットが一部消えてしまいました。
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そのことをクレームしたら、代替えに古いバージョンのモノが送られて来ました。ところが、今度はチップパスコンが輸送中衝撃で割れてました。
部品故障→クレーム→代替え品送付→代替え品も破損個所あり
まずは通販サイトを訪問し、説明を機械翻訳します。（ところが、この通販サイトのものはドイツのWEB制作情報のコピーのようです。追って、オリジナル情報サイトへアクセスして情報を確認します。http://nobunozakki.blog.fc2.com/blog-entry-62.html ）
回路図はこんな感じですね。
１．ATmega8、ATmega168あるいは、ATmega328マイクロコントローラーを採用します。 ２．2x16キャラクター液晶ディスプレイに結果を表示します。 ３．操作はワンキー、自動的に電源を切ります。 ４．電源が入らないときは２０ｎAしか流れず、電池動作向き。 ５．ローコストバージョンは発振子を使わないで、自動的電源シャットオフ。 1.05kバージョンのソフトウェアではATmega168あるいは、ATmega328は測定しない時スリープして電源消費を下げます。 ６．自動判定でPNPとNPN型のバイポーラトランジスタ、N、PチャンネルMOSFET、JFET、ダイオード、ダブルダイオード、 サイリスタのSCR。 7.自動判定は足の配置に依存します。 8.バイポーラ-トランジスターでは電流増幅度とエミッタジャンクションのスレッショルド電圧を測量します。 9.トランジスターではVbeスレッショルド電圧を判定して、高い電流増幅度を測定することができます。 10.バイポーラ-トランジスター、MOSFETの保護ダイオードも測定します。 11.MOSFETのスレッショルド電圧とゲートキャパシタンス値を測定します。 12.２つの抵抗値測定（ボリュームなど）では記号を表示し、最大地と部分値は表示します。４つの測定値が出ます。 表示する抵抗記号の両端はつながるテスト計の通し番号（1―3）です。だから抵抗も測定することができます。 もしも抵抗はその1面に調整し、中間端子と両端子を見分け測定します。 13.抵抗の測定解像度は0.1オームで、最大値としては50Mオームまで測れます。 14.コンデンサを測定することができます。4種類の値は表示します。 数値は25pf（8MHzクロックのとき、1MHzクロックでは50pF）から100mFまで。 解像度は1pF（8MHzクロック）になります。 15.2μF以上のコンデンサではシリーズ・レジスタンス（ESR）と容量値について測定することができます。 解像度は0.01オームとのため二桁の数値を表示します。 この機能のためには少なくとも16KフラッシュメモリATMEGA（ATmega168あるいは、ATmega328）が必要です。 16.２つのダイオードに対して順方向記号を表示することができます。それ以外に、順方向の損失を表示します。 17.LEDは測定でダイオードになりますが、順方向の電圧は通常ダイオードに比べて正常でも高い。 両発光ダイオードは測定してダブルダイオードに表示されます。 18.ツェナーダイオードも検出することができて、逆方向のブレイクダウン電圧は4.5Vより低い値しか測れません。 これは表示して２つのダイオードになるが、電圧を印可して方向をみることしかできません。 ダイオードの矢印記号は同じです。 このようなで状況で、あなたは700mV近くのスレッショルド電圧を通じて(通って)ダイオードの本当の陽極を識別することができます！ 19。****測定毎回で判定し、元に戻りません**** もしも3つのダイオード類部品を上回って検知されると、ダイオードの数を示してして測定失敗の結果を表示します。 これが発生すると、ダイオードがすべての3端子につながれ、少なくともひとつのが型のダイオードがあります。 このような状況では、あなたは再度、一つ又一つを測定再スタートさせるとともにただ２つの端子にだけ必要部品をつなぎます。 20。単独ダイオードであると、逆方向コンデンサーの容量値を測定します。 バイポーラトランジスターもまた測定することができ、その時はあなたはベースとコレクターそして、エミッターをつなぎます。 21。一回の測定ですべてのブリッジ接続を探し出します。 22。コンデンサーの値が25pfより低いと通常検知できないので、１つのダイオードと並列接続しりとかあるいは25pfコンデンサと並列接続で測定することができます。 このようなやり方では、あなたは必ず並列接続容量値の部分をマイナスしなければなりません。 23。抵抗が2100オームよりも低いとインダクタンスとして測定し、ATMEGAは少なくとも16Kフラッシュメモリを要します。 測定範囲が0:01mHからを20Hに上回ると、精度がよくありません。結果を測定し単一の素子がただつながるだけだと表示します。 24。テスト時間は約2秒間で、コンデンサー容量とインダクタンス測定が比較的長い時間かかります。 25。ソフトウェアで電源制御するので、自動的シャットダウン前の測量回数が決まっています。 26。内部発生の50Hz信号を検査するクロック周波数の正確性と（ATmega168とATmega328）の待ち時間と自己補正機能が使われます。 27。選択機能としてポートに出力する内部抵抗器と0バランスをなくす自己補正機能の測定（ATmega168とATmega328）で修正します。 コンデンサ容量100nFから20μFの容量まで端子1と端子3間で接続し、それをアナログ比較器の電圧を補正する接続が必要です。 これで40μF以上のコンデンサの測定誤差を減らすことができます。 同じコンデンサでも内部電圧を補正して電圧を参照する内部機能を参考にしてADC利得を測定することができます。 もしも試験電流がスタンバイ電流を上回るなら、SCRや双方向のSCRも検知することができます。 しかしある種の半導体SCRは双方向のSCRとに比べこの測定器が提供することができる電流よりももっと高い電流でトリガーするのをテストします。 提供できる試験電流は約6mA！です。注意してください。 すべての機能はATmega168のよりももっと多いメモリーがあるマクロプロセッサがあるが、これをわずかに用います。
